Avaliação teórica da reflectância em filmes finos AL/SiO2

A melhoria das propriedades pticas de um material, como a reflect ncia, envolve a complexa busca dos par metros experimentais ideais no processo de obten o dos mesmos. O uso de software computacional para a simula o destes processos de crescimento de pel cula fina representa um benef cio substancial devido n o depend ncia de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades f sicas envolvidas. Al m disso, h uma necessidade na ind stria automotiva, a Varroc Lighting Systems(c) recebeu a tarefa de melhorar a reflect ncia dos far is aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM(R), que utiliza o m todo cin tico Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema f sico a ser estudado em escala nanom trica, isto nos permitir analisar a influ ncia de diferentes magnitudes que podem afetar a reflect ncia do material.